片剂生产常见缺陷的根因分析，涉及微粉学、压缩曲线与 X 射线 CT 扫描

该技术文章梳理片剂生产常见缺陷的根因分析思路，覆盖粉末流动性差、离析、顶裂与分层、硬度不足及粘冲与拾取。文章以 USP <1062> 为框架介绍 tabletability、compactability、compressibility 等压缩曲线和压实模拟器，并指出 X 射线 CT 可无损识别内部裂纹、密度分布与包衣缺陷。