WITT将在芝加哥PACK EXPO展示泄漏检测系统

WITT Gas Controls 将于 10 月 18–21 日在芝加哥举行的 PACK EXPO International 2026 的 LU-7036 展位展示 LEAK-MASTER CONTURA 无损包装泄漏检测系统，展位观众可了解该系统的用途。 WITT 称，该系统用于胶囊、气调包装（MAP）及其他充气或空气填充包装的密封检测，采用基于压差检测体积变化的专利方法。其配备 Pac-Check 以及泄漏率、体积校准套件等有记录的检查与校准选项，公司称这些选项支持符合 DIN EN 1779 的可追溯质量保证，并与 ASTM F2338-09 高度相似。

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